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2020-08-26

热释电系数可用静态法、动态法和积分电荷法测试，其中积分电荷法得到广泛应用。图4.5-32为积分电荷法测试原理图(GB/T3389.8-1986)。该方法通过测量在电容器上积累的热释电电荷，测定剩余极化随温度的变化。使用静电计测得积分电容两端电压，输出至函数记录仪Y端，由于积分电容值远大于试样电容值，其两端的电压变化正比于试样剩余极化的变化。同时，用X端记录试样温度变化，可得到热释电电荷Q随温度T变化的曲线，微分该曲线，就可得到热释电系数测试设备的加热油槽由铜制成，外壳接地以屏...

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居里温度Tc的测试

2020-08-25

在居里温度Tc处，铁电压电材料的许多物理性质，如介电常数、热容量、线膨胀系数等都将发生突变，因此，只要测定这种突变点对应的温度就能确定铁电压电材料的居里温度。测定居里温度7。的方法很多，有自动导纳测量仪法、相变仪测量法、传输线测量法及电滞回线突变法等。下面介绍自动导纳测量仪法。用自动导纳测量仪测量居里温度时，在测量频率一定的情况下，只要测量电纳随温度的变化曲线，就能得到介电常数随温度T的变化曲线，即ε-T曲线，从而找出介电常数突变点来确定居里温度，其测量原理图如图4.5-31...

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铁电材料电滞回线的测量

2020-08-25

测量铁电材料电滞回线的方法通常有两种：冲击检流计描点法和Sawyer-Tower电路法。第二种方法可用超低频示波器进行观察以及用xy函数记录仪进行记录，简便迅速，故人们常常采用。采用Sawyer-Tower电路准静态测试铁电陶瓷材料电滞回线的测量原理图（GB/T6426-1999）如图4.5-30所示，系统绝缘电阻不小于108Ω，超低频高压源输出电压峰值为0~5KV、频率为0.1Hz的正弦波。运算放大器输入阻抗不小于109Ω。标准电容器Co的直流电阻不小于109Ω，一般容量为...

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华测电弱点测试仪的主要特点

2020-08-24

一、主要特点:1、能根据薄膜的使用宽度进行电弱点的测试，测试宽度可根据用户的要求而设定，无须将膜分切成小卷，免除了许多外来因素对测试结果的影响。2、测试数据能真实地反映薄膜的质量水平。3、主要元器件均选用品牌(如欧姆龙，美信，ABB等)，有效地保证了设备的可靠性、耐用性和稳定性。4、测量，复现性好。5、测试过程采用电子技术全自动控制，遇到电弱点时电压切断动作迅速。6、击穿电流在0～40mA连续可调，复现性好。7、多重保护功能，充分考虑了操作人员及设备的安全性。8、过压、过流、...

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电弱点测试仪的介绍

2020-08-24

据标准《GB/T13541-92电气用塑料薄膜试验方法》，电气用塑料薄膜要求进行电弱点测试，在给定直流电压下每平方米的击穿点(电弱点)数成为衡量薄膜成量的重要指标，那如何进行测试呢？此时就用到了电弱点测试仪。电气用塑料薄膜电弱点测试仪，无须将膜卷分切成小卷，根据薄膜的使用宽度直接进行电弱点测试。由于薄膜在生过程中极易引起纵向划伤，该仪器*引用“电弱线”概念，即在规定的时间内检测到的试样漏电流均超过1mA时，认定为该薄膜试样在生产过程中存在纵向划痕，从而产生“电弱线”，测试仪统...

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薄膜材料的择优取向

2020-08-21

在光电子学及其它高技术的发展中，薄膜材料占有重要的地位。铁电薄膜具有电光效应、非线性光学效应、压电效应和热释电效应等多种特性，又具有便于平面化和集成化的特点，因而特别受到人们的重视。现在广为研究的铁电薄膜是PbTiO3(PT)、Pb1-xLaTi1-x/4O3(PLT)、PZT、PLZT、LiNbO3、Bi4Ti3O12和BaTiO3。制备方法有电子束蒸镀、离子束溅射、射频磁控溅射、射频二极溅射、金属有机化学气相淀积和金属有机热分解法等。为了充分发掘铁电薄膜的功能，希望薄膜是...

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热敏效应及应用（三）

2020-08-20

临界负温热敏材料以VO2为基本成分的多晶半导体材料，在68℃附近电阻值发生突变，在狭小的温区内，电阻值随温度的增加而降低3~4个数量级，具有很大的负温度系数。阻值突变的温度称为临界温度Tc，不同的材料其临界温度Tc不同，如V2O3的临界温度为-100℃，Fe304为-150℃，VO2为68℃，Ti305为175℃，V305为140℃。Tc可以通过掺入适当的杂质提高或降低，如在V305中掺入Ge可将其TC降到100~140℃之间，掺入2%的Ge，可使Tc降到120℃左右。在临界...

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